CUBE-X 系列镀层测厚仪
功能：
1、测量方向：由上向下
2、镀层元素范围：Al铝～U铀
3、电压：50kV（1.2mA）
4、探测器（可选）：正比计数器、Si-Pin、SDD硅漂移
5、单准直器：0.3mmØ、0.5mmØ,
6、多准直器：0.1、0.2、0.3、0.5、0.05X0.05、0.05X0.25自动6位准直器
7、镀层层数：多至5层
8、测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米
9、测量时间：30秒-180秒
10、样品仓尺寸：337 x 248 x 100 mm (长x宽x高)
11、仪器尺寸：350 x 530 x 320 mm (长x宽x高)
12、同时定量测量8个元素。
13、定性鉴定材料达24个元素。
14、自动Z轴样品台
15、自动XY平台操控
16、摄像头：40X高清CCD摄像头